EBIC — Electron Beam Induced Current (Academic & Science » Electronics) … Abbreviations dictionary
EBIC — Electron Beam Induced Current (conductivity); (a scanning electron microscope mode) Contributor: CASI … NASA Acronyms
Electron beam induced current — (EBIC) is a semiconductor analysis technique performed in a scanning electron microscope (SEM) or scanning transmission electron microscope (STEM). It is used to identify buried junctions or defects in semiconductors, or to examine minority… … Wikipedia
Deutsche Bank — Deutsche Bank AG Staat Deutschland Sitz Frankfurt am Main Rechtsform … Deutsch Wikipedia
Microscope électronique à balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie electronique a balayage — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie Électronique À Balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Microscopie électronique à balayage — Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM, Microscope (homonymie) et Microscopie. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F La microscopie éle … Wikipédia en Français
Scanning Electron Microscopy — Microscopie électronique à balayage Pour les articles homonymes, voir MEB, SEM et Microscope. Microscope électronique à balayage JEOL JSM 6340F … Wikipédia en Français
Scanning electron microscope — These pollen grains taken on an SEM show the characteristic depth of field of SEM micrographs … Wikipedia
List of materials analysis methods — List of materials analysis methods: Contents: Top · 0–9 · A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z μSR see Muon spin spectroscopy … Wikipedia